BS EN 60749-10-2002 半导体装置.机械和气候试验方法.机械振动

作者:标准资料网 时间:2024-05-24 20:00:16  浏览:8375   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Mechanicalshock
【原文标准名称】:半导体装置.机械和气候试验方法.机械振动
【标准号】:BSEN60749-10-2002
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2002-08-28
【实施或试行日期】:2002-08-28
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体器件;集成电路;电学测量;冲击试验;环境试验;气候;电子设备及元件;半导体;机械试验;组件;气候试验;电气工程;试验;电子工程
【英文主题词】:Climate;Climatictests;Components;Destructivetesting;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Semiconductordevices;Semiconductors;Shocktests;Testing
【摘要】:ThispartofIEC60749describesashocktestintendedtodeterminethesuitabilityofcomponentpartsforuseinelectronicequipmentwhichmaybesubjectedtomoderatelysevereshocksasaresultofsuddenlyappliedforcesorabruptchangesinmotionproducedbyroughhandling,transportation,orfieldoperation.Shockofthistypemaydisturboperatingcharacteristics,particularlyiftheshockpulsesarerepetitive.Thisisadestructivetest.Itisnormallyapplicabletocavity-typepackages.Ingeneral,thismechanicalshocktestisinconformitywithIEC60068-2-27but,duetospecificrequirementsofsemiconductors,theclausesofthisstandardapply.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:8P.;A4
【正文语种】:英语